水稻表型检测系统
型号：KM-SDY
产品展商:杭州科铭光电科技有限公司
联系方式:(0571)8585 9925/(0571)8585 9755
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仪器简介
水稻育种研究中，水稻表型参数至关重要，水稻表型检测仪
可用于水稻株高、夹角、基粗、水稻亩穗数、理论产量、穗长、
总粒数和千粒重以及水稻茎秆分析等指标的测量，可多点快速取
样数据可批量分析并获取平均值。这些表型参数在水稻品种筛选、
水稻产量预测、稻穗动态发育、基因定位、功能解析和水稻遗传
育种中发挥着至关重要的作用。软件集合多方面功能为一体，一站式解决水稻的表型参数测量问题。广泛适用于各农科院、高校、育种公司、种子站的水稻研究。
技术参数
测量范围和误差：
1、水稻亩穗数测量误差： ≤±5%
2、稻穗形态测量范围： 5~20cm
3、水稻夹角测量范围： 0-180°
4、作物茎粗： 0-5.2cm
误差
穗长误差： ±2%
夹角测量误差： +5%
作物茎粗测量误差： ±1mm
千粒重测量误差： ±2%
株高测量范围： 0.1-1.5m
水稻茎秆测量误差：.....±5%
