小麦不完善粒测定仪
型号：KM-XML
产品展商:杭州科铭光电科技有限公司
联系方式:(0571)8585 9925/(0571)8585 9755
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仪器简介
小麦不完善粒测定仪以小麦不完善粒作为测定对象,在自动获取粮食图像后，通过模式识别或深度学习等技术构建神经网络模型，实时分析粮食特征并计算出小麦不完善粒百分比。
技术指标
1.1 仪器能够按照 GB1351、GB1353 对小麦、玉米不完善粒及病斑粒、虫蚀粒、破损粒、 生芽粒、生霉粒等分类的定义快速检测不完善粒总量及其分类各项含量。检测品种：小麦、玉米。
1.2 检测重量：一次检测量：≥50g
1.3 检测速度：每 50g 样品检测时间≤3min。
1.4 检测精度：双实验允差： ≤1%。
1.5 检测方法：振动送料，高清图像采集,保留样品的原始状态，对样品无破坏。
1.6 检测结果：以质量百分比为结果输出方式，检测结果包含不完善粒总量及其分项含量。
1.7 数据处理与存储：自动完成检测数据处理；存储≥二十万张视频图像照片，存储空间不低于 500GB。
1.8 显示：可视化显示界面，触屏功能，直观的菜单导航，整合帮助功能。
1.9 输出：USB2.0 输出接口和网线接口。数据自动保存，提供历史检测记录的快捷导出功能。
1.10 系统启动时间：≤1min。菜单语言：中文等。
1.11 环境适应性：温度：0℃-50℃；湿度：≤85%。
1.12 检测软件 提供小麦和玉米两个不完善粒含量检测模块选择
1.13 环境适应性 温度：0℃-40℃；湿度：≤ 85%。
1.14 供电 AC220V±20V,50Hz/60Hz
1.15 功耗：功率不高于 800W。
仪器配置最低要求
2.1 不完善粒检测主机 1 台。
2.2 内置电脑1 台及相应 的操作软件 1 套。
